荧光分布成像系统（EEM View）是全球首创将相机与荧光分光光度计结合的先进设备，安装于日立F-7000/7100荧光分光光度计内。该系统能同时获取样品图像和光谱信息，具备高空间分辨率和宽波长范围，适用于多种样品测试。通过独特的AI光谱图像处理算法，可分别显示荧光和反射图像，适用于涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。

色散单元：光栅
仪器种类：稳态荧光光谱仪
狭缝(光谱通带)：1~20nm